3.5 - Classe 4 : Mesure et détection
Attention : Des standards spécifiques aux problèmes de mesure
Remarque : Un MCS permettant la mesure doit comporter un champ en sortie. Un système de mesure transforme un champ en entrée en champ de sortie.
4.1 : Méthodes indirectes
Changer de système plutôt que d'effectuer la mesure
Utiliser un / des copies
Détections successives (détecter des changements, ou mesure discontinue)
4.2 : Synthèse
Synthèse ou / et détection d'un autre effet
Introduire des substances plus facilement mesurables dans le système
Introduire des substances plus facilement mesurables dans l'environnement (détecter changement d'environnement)
Obtention d'additifs à partir de l'environnement
4.3 : Amélioration
Application d'un effet physique
Mesure indirecte de fréquences de résonance du système
Mesure indirecte de fréquences de résonance d'un objet lié au système
4.4 : Vers des systèmes de mesure ferromagnétiques
5 standards spécifiques, à interpréter
4.5 : Évolution des systèmes de mesure
Transition vers un bi ou poly système
Mesure des dérivées
Remarque :
Dans les standards proposés pour les problèmes de mesure, on retrouve des éléments et des logiques présents dans d'autres classes de standards.