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3.5 - Classe 4 : Mesure et détection

AttentionDes standards spécifiques aux problèmes de mesure

Remarque : Un MCS permettant la mesure doit comporter un champ en sortie. Un système de mesure transforme un champ en entrée en champ de sortie.

4.1 : Méthodes indirectes

  • Changer de système plutôt que d'effectuer la mesure

  • Utiliser un / des copies

  • Détections successives (détecter des changements, ou mesure discontinue)

4.2 : Synthèse

  • Synthèse ou / et détection d'un autre effet

  • Introduire des substances plus facilement mesurables dans le système

  • Introduire des substances plus facilement mesurables dans l'environnement (détecter changement d'environnement)

  • Obtention d'additifs à partir de l'environnement

4.3 : Amélioration

  • Application d'un effet physique

  • Mesure indirecte de fréquences de résonance du système

  • Mesure indirecte de fréquences de résonance d'un objet lié au système

4.4 : Vers des systèmes de mesure ferromagnétiques

  • 5 standards spécifiques, à interpréter

4.5 : Évolution des systèmes de mesure

  • Transition vers un bi ou poly système

  • Mesure des dérivées

Remarque

Dans les standards proposés pour les problèmes de mesure, on retrouve des éléments et des logiques présents dans d'autres classes de standards.

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